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自動膜厚測量系統(tǒng)

自動膜厚測量系統(tǒng)

產(chǎn)品型號： F50

所屬分類：測厚儀

產(chǎn)品時間：2024-09-10

簡要描述：日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50
F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。

詳細說明：

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50


F50自動測繪膜厚測量系統(tǒng)是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結(jié)合的系統(tǒng)。
以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率。它支持從2英寸到450毫米的硅基板，并且可以任何測量點。
還有與大型玻璃基板兼容的可選產(chǎn)品。

主要特點

  • 結(jié)合基于光學干涉原理的膜厚測量功能和自動高速載物臺的系統(tǒng)

  • 以過去無法想象的速度測量點的膜厚和折射率

  • 兼容2英寸至450毫米的硅基板，可任何測量點

日本filmetrics自動膜厚測量系統(tǒng)F50

主要應(yīng)用

半導體
抗蝕劑、氧化膜、氮化膜、非晶/多晶硅、拋光硅片、化合物半導體襯底、?T襯底等。
平板單元間隙、聚酰亞胺、ITO、AR膜、
各種光學膜等。
薄膜太陽能電池CdTe、CIGS、非晶硅等
引砷化鋁鎵（AlGaAs）、磷化鎵（GaP）等

測量示例

薄膜厚度分析 FIL Mapper 軟件具有強大而*的薄膜厚度分析算法和可以讓您輕松測量點的功能。




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