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日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

產(chǎn)品型號:

所屬分類:其他設備

產(chǎn)品時間:2024-09-10

簡要描述:日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160
OURSTEX 160型被?選為東京都政du于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查(重金屬等)的簡單快速分析技術(shù)(簡單分析方法)。

詳細說明:

日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調(diào)查(重金屬等)的簡單快速分析技術(shù)(簡單分析方法)。

 

 ■用于工廠現(xiàn)場的土壤分析...  ●可以進行無損且快速的成分分析?! 窬o湊輕巧,因此可以進行現(xiàn)場分析?! 裉岣吡酸槍χ校亟饘僭氐撵`敏度?! 馯tility僅適用于AC100V-5A?! 裨O備內(nèi)部是受控區(qū)域。

元素技術(shù)的結(jié)晶/高靈敏度和高精度

能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品,并使用半導體檢測器測量產(chǎn)生的X射線熒光,因此無論樣品的形狀如何,它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器(SDD),并且可以與數(shù)字計數(shù)電路(DSP)結(jié)合使用以測量高分辨率和高計數(shù)率。
為了提高分析性能,準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數(shù)靈敏度z大化的激發(fā)光學系統(tǒng)的條件。

應用實例

  • 同時分析碘化銫(CsI)化合物中的碘(I)和銫(Cs)
  • 焚燒灰分的分析實例
  • 水泥分析實例
  • 采石場的土石,沙礫和碎石現(xiàn)場分析示例
  • 鋁合金中鎂的測量示例(每種類型)
  • 農(nóng)yao污染土壤的分析
  • 工業(yè)廢物分析
  • 土壤中有害重金屬元素的分析
  • 石油中的硫分析
  • 新型固體燃料RPF分析

日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160規(guī)格

 

測量原理 能量色散X射線熒光分析方法
測量目標 用于土壤分析的環(huán)境樣品(固體/粉末/液體)
測量元件 硫,鉻,砷,硒,鎘,汞,鉛(13 AI- 92 U)
樣品形狀 z大78mmφx 55mmH
樣品室氣氛 氣氛
X射線額定輸出 48kV,2mA高達50W
探測器 電子冷卻的硅漂移檢測器
計數(shù)電路 數(shù)字處理方式
使用條款 溫度:5至27°C
 濕度:20至75%
 電源:AC100V,5A(50 / 60Hz)
 接地:D類接地
其他(可選) 噴墨彩色打印機,鼠標


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