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日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D

日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D

產(chǎn)品型號:

所屬分類:其他設(shè)備

產(chǎn)品時間:2024-09-08

簡要描述:日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D
D,F(xiàn),G,J,K類,切屑,熔體,徑向和軸向電阻器的分揀機和編帶機的理想選擇

詳細說明:

日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D

 

D,F(xiàn),G,J,K類,切屑,熔體,?徑向和軸向電阻器的?分揀機和編帶機的理想選擇

  • 由于從模擬到數(shù)字的隔離而提高了抗噪聲能力,因此具有很高的穩(wěn)定性
  • 與極小的芯片兼容(低功率測量)
  • 超高速0.7毫秒(代表值)
  • 通過靜態(tài)功率抵消測量實現(xiàn)高精度和高穩(wěn)定性
  • 通過對每個范圍進行測量值積分時間設(shè)置功能,實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量
  • %測量:±99.99%[5mΩ-109MΩ]
  • 測量:0.00mΩ?200.00MΩ
  • 接觸檢查:測量前/測量后/ OFF
  • RS-232C接口標準設(shè)備(GP-IB是可選的)
  • 打印機輸出標準設(shè)備(與Centronics兼容)
  • 設(shè)置值傳送功能作為標準設(shè)備:(相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳送到另一臺AE-162D并自動設(shè)置)
  • 測量電流/測量電壓異常檢查電路的標準設(shè)備

校準后180天[校準后1年:1.5倍]的測量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23°C±5°C)

日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測AE-162D

測量范圍標準值設(shè)定范圍實測電流測量精度*
快速
100毫歐5mΩ-100mΩ100毫安≤±0.02%±2a±2d≤±0.03%±3a±2d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ?1Ω100毫安在±0.02%±a±1d之內(nèi)≤±0.02%±a±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω1.001Ω?10Ω50毫安
100Ω10.01Ω-100Ω10毫安±0.02%±1d以內(nèi)在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之內(nèi)
1kΩ100.1Ω?1kΩ5毫安
10kΩ的1.001kΩ?10kΩ0.5毫安
100kΩ的10.01kΩ-100kΩ50微安
1兆歐100.1kΩ?1MΩ5微安在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之內(nèi)
10兆歐1.001MΩ?10MΩ0.5微安±0.03%±1d以內(nèi)在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之內(nèi)
100兆歐10.01MΩ?109MΩ0.05微安±0.1%±2d以內(nèi)───

* D =數(shù)字,n =積分時間(毫秒),%測量:α=(100 /標準設(shè)定值mΩ)x 0.01%,值測量:α= 0(加±1d)
*完整屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間外部啟動自由奔跑
快速快速
大約18毫秒-400毫秒大約0.7毫秒-400毫秒約30次/秒?
約2次/秒
約60次/秒?
約2次/秒
測量端子開路電壓15V以下
測量結(jié)束信號(EOC)脈沖寬度1到250毫秒,并且可以連續(xù)設(shè)置
測量方式4端子測量/ 2端子測量可切換
判斷值設(shè)定范圍%測量:±99.99%,值測量:00000-20000
周邊環(huán)境溫度:0°C至+ 50°C,濕度:80%以下
需要電源AC85V?265V,50Hz?60Hz,約50VA
外形尺寸333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡膠腳等突起)
重量約3.5kg
選項? GP-IB
?數(shù)據(jù)傳輸線
?短接(零歐姆標準電阻)
?轉(zhuǎn)換適配器(3P x2⇒5P)

 



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