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ecginc匝間短路檢測儀的概要

發(fā)布時間:2022-09-07 點擊量:919

ecginc匝間短路檢測儀的概要

匝間短路檢測儀可以對線圈做到有效的,非破壞性測試。

其原理是將相同的脈沖電流傳遞給標準繞組(主線圈)和被測繞組(采樣線圈),比較瞬態(tài)現(xiàn)象波形,并判斷質量。瞬態(tài)波形,即在線圈中產(chǎn)生的減衰振動波形表示電感和Q,并且可以同時確定線圈的匝數(shù)差,層厚度,或確定材料的差異等等。施加更高的脈沖電壓還可以從電暈放電中檢測出絕緣缺陷。 換句話說,可以在非常短的時間內可以對線圈做各種檢測

1.面積比較(AREA)

在規(guī)定的時間間隔內比較主設備區(qū)域的大小和樣本的區(qū)域大小。 。
例圖1 算出a-b區(qū)間的面積,判定它們之間差異大小。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。面積大小,大致與線圈中的能量損失成比例,根據(jù)損耗大小來判斷。例如當樣品線圈處于短路狀態(tài),損耗部分就會增大并且此結果可以顯示出來。

2.波形差面積比較(DIF-AREA)

計算規(guī)定間隔內主設備和樣本之間波形的不同部分的面積。
例圖2算出a-b區(qū)間的面積,和標準面積(圖1)相比較,根據(jù)其大小程度可以做出判定。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。波形差面積的大小,通過L值及損失程度大小的總和來顯示。特別是L值變化有問題的時候,這個方法有效
。

3.電暈量比較判定(FLUTTERVALUE)

忽略波形差異,檢測像圖3的電暈放電等周波成分。
通過對任意規(guī)定
部分的波形應用濾波處理來檢測電暈分量,并且基于其幅度確定電暈分量。判定基準設定為整數(shù)值,如果被測的物判定結果在所設范圍內,即是良品。

4.電暈量比較判定(LAPLACIANVALUE)

Laplacian是一種數(shù)字濾波方法,用于在圖像處理中檢測物體的邊緣強度,與FLUTTER VALUE方法相比,能夠使波形數(shù)據(jù)中隱藏的不連續(xù)性數(shù)值(即噪音)數(shù)據(jù)化,可以判斷準確且易于理解的放電成份。

5.線圈絕緣破壞電壓測試功能
(ImpulseBreakeDown Starting Voltage Test :BD V test)

對被測試線圈逐漸施加電壓的同時,通過AREA以及Laplacianl進行絕緣破壞判定,臨近破壞前施加的實際測試電壓作為被測線圈的破壞電壓來顯示(図4)

6.目測判定

保存的標準波形和樣品波形可以簡單的疊加顯示,從而更能容易區(qū)分2個先前的特性差異。


DWX系列性能

 DWX-01ADWX-05ADWX-10
施加電壓?電壓可調檔位
?施加能量
※ 抵抗負荷為1KΩ
50V~1000V
(10V檔)
最大5m焦耳
500V~5000V
(100V檔)
最大0.12焦耳
1000V~10000V
(100V檔)
最大0.5焦耳
測試電感范圍10μH以上10μH以上50μH以上
采樣?速度 
/ 內存
8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
采樣?范圍
(WIDTH)
-4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5
10個范圍(0 DW系列互換)
測試輸入回路
電阻分壓(5MΩ)
畫面顯示,波形顯示范圍640×480(VGA),8.4寸彩色液晶,4色表示
512×256
判定方法和標準波形比較
根據(jù)波形面積,波形差面積,放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 
標準波形
儲存容量
主機擴張196種(14種/14頁)
Compact Flash Memory700中(14種/50頁)
外部接口并行口I/O(Start,Reset,OK,NG,Busy,Master等)
RS-232C(測試控制 測試數(shù)據(jù))
打印機板(畫面硬拷貝等)
EtherNet適配器(可選)
附件測試電纜線1.5M 1根,電源線1根(付3P轉換頭)
Compact Flash Memory 1個,并行口I/O連接器1個
使用說明書?測試成績書 1份
使用條件0℃~40℃ 電源電壓:100V~240V±10%(出廠時工廠設定)
外形尺寸
(不含Carry Handle)
?重量
345(W)×185(H)×370(D)
約10Kg
345(W)×325(H)×370(D)